Die Entwicklung autonomer Fahrzeuge führt zu tiefgreifenden Veränderungen bei der Konzeption integrierter Schaltkreise. Derartige ICs für sicherheitskritische Anwendungen müssen die Vorgaben der Norm ISO 26262 für funktionale Sicherheit erfüllen und werden gemäß eines Automotive Safety Integrity Levels (ASIL) klassifiziert.

Jeder Level besitzt bestimmte Metriken, die einzuhalten sind. Dazu gehören beispielsweise die Single Point Fault Metric (SPFM) oder die Diagnostic Coverage (DC). Zu den Herausforderungen im Entwurfsablauf von Schaltkreisen zählt die Ermittlung dieser Metriken, die von der verwendeten Technologie sowie vom Design selbst abhängen.

Integrierte Selbsttest (Built-In Self-Tests / BIST) können dabei als eingebettete Sicherheitsmechanismen genutzt werden, welche auf die Berechnung der Metriken bestimmte Effekte ausüben.

Lernen Sie im Whitepaper,

• wie Sie die verschiedenen Metriken zur Einstufung in die verschiedenen Automotive Safety Integrity Levels (ASIL) basierend auf reinem RTL-Code ermitteln können,
• wie Sie Sicherheitsmechanismen grundsätzlich in eine integrierte Schaltung integrieren,
• wie Sie integrierte Selbsttests (Built-In Self-Tests / BIST) als Sicherheitsmechanismus verwenden, und
• welche Auswirkungen der Einsatz von BIST auf die Berechnung der Metriken besitzt.

Wir freuen uns über Ihr Interesse am Whitepaper! Mit nur einem Klick auf den Button können Sie sich das Whitepaper kostenfrei herunterladen. Interessante Einblicke wünscht Ihnen Ihr ELEKTRONIKPRAXIS-Team.